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  • 紫外辐照计LB-UV-A采用SMT贴片技术,选用高精度低功耗数字芯片,仪器外壳为流线型设计,探测器经过严格的光谱及角度特性校正,性能稳定,适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

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    产品价格:面议
    厂商性质:生产厂家
    更新日期:2020-06-06
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